Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation...

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit PSPICE

Peter Baumann (auth.)
როგორ მოგეწონათ ეს წიგნი?
როგორი ხარისხისაა ეს ფაილი?
ჩატვირთეთ, ხარისხის შესაფასებლად
როგორი ხარისხისაა ჩატვირთული ფაილი?

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

კატეგორია:
წელი:
2012
გამოცემა:
1
გამომცემლობა:
Vieweg+Teubner Verlag
ენა:
german
გვერდები:
135
ISBN 10:
383482495X
ISBN 13:
9783834824950
ფაილი:
PDF, 5.23 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
german, 2012
ამ წიგნის ჩამოტვირთვა მიუწვდომელია საავტორო უფლებების მფლობელის საჩივრის გამო

Beware of he who would deny you access to information, for in his heart he dreams himself your master

Pravin Lal

საკვანძო ფრაზები